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    QNix8500高精度漆膜测厚仪 无锡涂层测厚仪

    产品型号: QNix8500
    品  牌: QNix尼克斯
    • ≧1 台
      ¥1000.00
    所 在 地: 江苏无锡滨湖区
    更新日期: 2023-09-17
    详细信息
     品牌:QNix尼克斯  加工定制:否  型号:QNix8500  
     类型:涂层  测量范围:0-5 mm 显示方式:LCD液晶显示  
     电源电压:9 V 外形尺寸:124×67×33 mm 显示方式:LCD液晶显示  

    QuaNix8500 QNix8500高精度漆膜测厚仪 无锡涂层测厚仪

     

    QNix8500涂镀层测厚仪一体分体通用,带菜单操作,是一种智能化的测厚仪。可通过更换探头来满足不同的测量需求,可存储数据,并且可与计算机进行无线传输。探头可直接与主机连接,进行一体化测量,也可通过探头电缆线来与主机连接,进行分体测量。分体测量操作简单,可很大程度上避免误操作产生的误差。该仪器主机通用,探头分为磁性探头、涡流探头及双用探头,探头的测量范围有0-2mm和0-5mm两种,用户在购买该产品时要根据需求选购合适的探头,如有不明白的地方敬请来电咨询。
     

    产品优点:

    只需调零,无需校准
    测量精度高
    一体分体通用
    可配多种探头
    中英文菜单操作
    智能化
    带存储,并可连计算机对数据进行处理分析
    可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度精确测量,误差小于±3um

    可选探头:

    Fe铁基探头: 0-2000μm 0-5000μm
    NFe非铁基探头: 0-2000μm 0-5000μm
    NFe/Fe两用探头:0-2000μm 0-5000μm
    无线传输探头
    薄镀层探头
     

    QNix8500涂层测厚仪技术参数
    基   体
    Fe、NFe、NFe\NFe
    探头形式
    一体、有线分体、无线分体
    显   示
    LCD液 晶 显 示
    测量范围
    0-2000μm
    0-5000μm
    测量精度
    0-2000μm:  ≤±2%
    2000-5000μm:≤±3%
    ***小基体
    Fe:10mm×10mm   NFe:6mm×6mm
    ***薄基体
    Fe:0.2mm    NFe:0.05mm
     ***小曲率  
    凸半径:5mm    凹半径:30mm
    储存温度
    -10℃ --- 60℃
    温度补偿范围
    0℃ --- 60℃
    电   源
    2节1.5V干电池
    尺   寸
    124mm×67mm×33mm
    重   量
    120g(含电池及探头)
    存   储
    一个数据组,30000个测量值
    数据传输
    通过USB模块和电脑无线传输
    统计功能
    平均值,***大值,***小值,标准偏差

     

     

    The modular measuring system QNix® 8500 works with all measuring probes
    Whether lacquer or anti-corrosion protection on metals, iron, aluminum, copper, zinc or steel. With a simple probe change all non-magnetic coatings on steel and iron, all isolating coating on non-ferrous metals can be measured non-destructively.

    The modular plug system makes the exchange of the digital probes (Fe-, NFe- and dual probes) simple and safe. For external use, probes are connected problem-free with an adaptor cable. The new radio control probe will transfer all measured data wirelessly to the body gauge QNix® 8500. Through the USB interface, data is then easily transferred to the PC, where it can be analyzed and documented.

     

     

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